Dongguan Ευρ?? ?ργανα Co., Ltd.
Αρχική σελίδα>Προϊόντα>Φρασματόμετροι φθοροσύνης x σειράς EDX
Ομάδες προϊόντων
Πληροφορίες επιχείρησης
  • Επίπεδο συναλλαγής
    Μέλος VIP
  • Επικοινωνία
  • Τηλέφωνο
    13925736599
  • Διεύθυνση
    Βιομηχανικ? Π?ρκο Dongcheng, Dongguan, επαρχ?α Guangdong
Επικοινωνήστε τώρα
Φρασματόμετροι φθοροσύνης x σειράς EDX
EDX σειρά X φωτογραφικό φάσματόμετρο, φωτογραφικό φάσματόμετρο ακτίνων X διάσπασης ενέργειας που εφαρμόζεται σε RoHS amp. amp; Ανάλυση οδηγίας WEEE, δ
Λεπτομέρειες προϊόντος

Φρασματόμετροι φθοροσύνης x σειράς EDXΕνεργειακή διάσπασηXΦρασματόμετρο ακτινοβολίαςΕφαρμόζεται σεRoHS & WEEEΑνάλυση εντολώνΔιάφορες μετρήσεις πάχους μεταλλικών μεμβρανών, μετρήσεις πάχους βιομηχανικών επικάλυψεων, οδηγίες αλογόνωνClΑνάλυση στοιχείωνΑνάλυση συστατικών ορυκτών, πρώτων υλών, μαγνητικών μαγνητικών μέσων και ημιαγωγών και διάφορων συνδέσεωνΑνάλυση συστατικών χρυσού και πολύτιμων μετάλλων.
Φρασματόμετροι φθοροσύνης x σειράς EDXΚύρια χαρακτηριστικά
Ανάλυση πεδίου στοιχείωνS-U

Περιοχή συγκέντρωσης στοιχείων ανάλυσης 2ppm—100%
Συνεχής σταθερότητα8Μέτρηση ώραςRSD<0.25%
● ROHS/WEEEΧρόνος ανίχνευσης100-120δευτερόλεπτα

Ηλεκτρική ψύξη στις ΗΠΑSi(Pin)ανιχνευτής

Ηλεκτρική ψύξηSi(Pin)ανιχνευτής κρυστάλλινη περιοχή15mm2Ανάλυση<155eV
Τεχνολογία πλήρως ψηφιακών επεξεργαστών παλμών

Εξαιρετική αναλογία κορυφής, εξαιρετικά υψηλή ευαισθησία στην ανάλυση ίχνων

● 50KV,50WΑυτοπροστασίαX-Σωλήνας ακτίνων

Τεχνολογία έξυπνης εναλλαγής σύνθετων φίλτρων

Χαρακτηριστικά:

Ακριβής ανάλυση του μόλυβδου σε χλωρίο και χρώματα

ΕνσωμάτωσηFPΝόμος,AlphaΜέθοδος συντελεστών, μέθοδος εμπειρικών συντελεστών

Ασφαλής σύνδεση, μαλακός και σκληρός συνδυασμός ακτινοβολίας

Εύκολη λειτουργία με ένα κλικ

Εξυπνό λογισμικό αυτόματη ρύθμιση παραμέτρων και επιλογή φίλτρων

XΠροστασία από υπερθερμοκρασία σωλήνων ακτίνων

Ηλεκτρονική ψύξη χωρίς υγρό άζωτο και άλλα καταναλωτικά

Τεχνικές προδιαγραφές

Τύπος όργανου

Φωτογραφικός φάσματόμετρος EDX-1800x

Αρχή ανάλυσης

Ανάλυση φωτογραφίας ακτίνων Χ διάσπαρσης ενέργειας

Πεδίο ανάλυσης

S(16)-U(92) οποιοδήποτε στοιχείο

Ανίχνευση κατώτατου ορίου

Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm

Σχήμα δείγματος

Οποιοδήποτε μέγεθος, οποιοδήποτε ακανόνιστο σχήμα

Τύπος δείγματος

Πλαστικό / μέταλλο / ταινία / σκόνη / υγρό κλπ

Σωλήνας ακτίνων Χ

Στόχος

Στόχος μολυμπέντιο (Mo)

Τάση σωλήνων

5─50KV

Σωλήνας ρεύματος

1─1000uA

ανιχνευτής

Αμερικανικός ανιχνευτής AMP-TEK Si-PIN, σύστημα ανάλυσης ύψους παλμών υψηλής ταχύτητας

Γεννήτρια υψηλής πίεσης

Γεννήτρια υψηλής τάσης Spellman

Φίλτρα

Αυτόματη επιλογή και αυτόματη μετατροπή έξυπνων φίλτρων

Παρατήρηση δείγματος

5 εκατομμύρια έγχρωμες κάμερες

Λογισμικό ανάλυσης

Δωρεάν αναβάθμιση δια βίου

Μέθοδος ανάλυσης

Μέθοδος συντελεστή άλφα (μέθοδος NBS-GSC), μέθοδος FP, μέθοδος τυποποιημένης καμπύλης

Συμμόρφωση με τις προδιαγραφές

IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006

Ηλεκτρονική έρευνα
  • Επαφές
  • Εταιρεία
  • Τηλέφωνο
  • Ηλεκτρονικό ταχυδρομείο
  • WeChat
  • Κωδικός επαλήθευσης
  • Περιεχόμενο μηνύματος

Επιτυχής επιχείρηση!

Επιτυχής επιχείρηση!

Επιτυχής επιχείρηση!