Ο αναλυτής φωτογραφικού φάσματος X διάσπασης ενέργειας είναι μικρός, καλή σταθερότητα, γρήγορη και ακριβής ανάλυση, χαμηλό κόστος λειτουργίας, εύκολη λειτουργία και συντήρηση, είναι η ιδανική επιλογή για τον έλεγχο της ποιότητας των προϊόντων. Μπορεί να προσδιοριστεί το μολύβδο Pb, υδράργυρο Hg, κάδμιο Cd, χρώμιο Cr, βρωμιο Br και άλλα στοιχεία. Οι ανιχνευτές ημιαγωγών πυριτίου, που επιτυγχάνουν υψηλή ευαισθησία μέσω έξυπνου σχεδιασμού διέγερσης και ανίχνευσης, επιτρέπουν στους χρήστες να προσαρμόσουν πολυκαμπύλες πολυφάσματα και αναλυτικές μεθόδους για διαφορετικές εφαρμογές.

Τομές εφαρμογής

Ο αναλυτής φωτογραφικού φάσματος ακτίνων Χ διάχυσης ενέργειας EDXRF εφαρμόζεται σε πετροχημικά προϊόντα, πλαστικά και πολυμερή, τρόφιμα και καλλυντικά, περιβάλλον, μεταλλεύματα, φαρμακευτικά, οικοδομικά υλικά, κεντρικές εργαστηριακές επιθεωρήσεις τελικών προϊόντων, μεταλλικά υλικά κ.λπ.

Αρχή λειτουργίας

Χρησιμοποιώντας την αρχή της ανάλυσης φθοροδότησης ακτίνων Χ, κάθε στοιχείο στο διεγερμένο δείγμα εκπέμπει δευτερεύουσες ακτίνες Χ και οι δευτερεύουσες ακτίνες Χ που εκπέμπονται από διαφορετικά στοιχεία έχουν συγκεκριμένες ενεργειακές ιδιότητες ή ιδιότητες μήκους κύματος. Το σύστημα ανίχνευσης μετρά την ενέργεια και την ποσότητα αυτών των δευτερογενών ακτίνων Χ. Στη συνέχεια, το λογισμικό της συσκευής μετατρέπει τις πληροφορίες που συλλέγονται από το σύστημα ανίχνευσης σε είδη και περιεκτικότητα των διαφόρων στοιχείων στο δείγμα.

Δομή όργανου

Συνδυάζοντας μέθοδους ανάλυσης όπως η μέθοδος εμπειρικού συντελεστή και η μέθοδος βασικών παραμέτρων (μέθοδος FP), η ακριβής απόδοση των δεδομένων δοκιμής εξασφαλίζεται πλήρως.

Μέθοδος εμπειρικού συντελεστή: το όργανο προσδιορίζει τον συντελεστή επίδρασης με βάση τον προσδιορισμό του τυποποιημένου δείγματος. Οι απαιτήσεις για τα τυποποιημένα δείγματα είναι υψηλές, οι απαιτήσεις είναι παρόμοιες με τον τύπο του δείγματος που αναμένεται να μετρηθεί και το μοντέλο διόρθωσης είναι απλό.

Βασική μέθοδος παραμέτρων (μέθοδος FP): Το όργανο προσδιορίζει τις παραμέτρους με βάση την πραγματική ανίχνευση της ουσίας με υπολογισμούς μοντελοποίησης πολλών φυσικών μεγεθών. Οι απαιτήσεις για τα τυποποιημένα δείγματα δεν είναι υψηλές, οι υπολογισμοί είναι πιο περίπλοκοι και κατάλληλοι για την έλλειψη αντίστοιχης δοκιμής της ουσίας του δείγματος.

Λειτουργίες λογισμικού

Εισαγωγή υλικού